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          半導體相關試驗設備(冷熱沖擊試驗箱)的測試標準介紹

          時間:2022-06-06點擊次數:1110

          半導體應用廣泛,相關的試驗設備有多種,下面簡單介紹下常見半導體試驗設備的標準如下:

          1.溫度循環(冷熱沖擊試驗)參考標準:JESD22-A104

          溫度范圍:-65~150

          低溫沖擊:-40℃,-55℃,-65

          高溫沖擊:65℃,85℃,125

          溫度沖擊時間小于3min1min

          溫度保持時間30min60min

          測試時間不能少于1000個循環


          2.熱壓器/無偏壓 HAST測試 參考標準:JESD22-A118

          溫度范圍:100~143

          濕度范圍:70%RH~100%RH

          壓力范圍:0.5kg~3.5kg

          測試時間不能少于200小時,具體根據用戶實際要求,有些需要達到500小時到1000小時等不同時間

          3.其他測試標準:GB/T 2423.1-2001  試驗A:低溫試驗方法,試驗B:高溫試驗方法,GJB 150.3-1986 高溫試驗, 低溫試驗, GB 11158《高溫試驗箱技術條件》, IEC60068-2-14等測試標準,如需了解更多測試標準請來電咨詢


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